XY-754N紫外可见分光光度计 自动波长扫描

XY-754N紫外可见分光光度计

仪器特点：

XY-754N紫外可见分光光度计采用高性能51微机控制系统，具备强大的数据处理和存储能力，可保存多组标准曲线及测试数据，便于用户随时调用和对比分析。仪器配备智能自诊断功能，可实时监测光路系统、电源模块等关键部件的运行状态，及时发现并提示异常，极大提高了设备的稳定性和维护效率。

该仪器特别设计了断电保护功能，有效避免突然停电导致的数据丢失问题，确保实验数据的完整性与安全性。内置专业化定量分析软件，提供直观的中文操作界面，用户可通过向导式流程轻松完成光度分析、定量计算、动力学测试、光谱扫描、多波长测定及DNA/蛋白质分析等多种应用。

仪器支持多种外设连接，配备标准打印机接口和RS-232通讯接口，可方便地输出测试报告和数据，实现信息化管理。其自动波长调节功能显著提升了分析效率和准确性，尤其适合大批量样品的快速检测。

技术参数

仪器型号：XY-754N

波长驱动：自动波长

波长范围：200-1000nm

波长准确度：±2nm

波长重复性：0.5nm

光谱带宽：4nm

透射比准确率：±0.5%T

透射比重复性：0.2%T

透射比范围：0.0-200%T

光度范围：-3-3A,0-200%T,0-9999C

杂散光：0.2%T@220nm/360nm

稳定性：±0.002A/h@500nm

显示方式：128×64位点阵液晶显示

通讯方式：USB接口

打印机：选配

分析软件：支持

噪声水平：0.001A/2min@500nm

基线平直度0.002A/h