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更新时间:2026-01-09
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产品介绍
UV-313型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
性能特点
1、光谱及角度特性经严格校正
2、数字液晶显示,带背光
3、手动/自动量程切换
4、数字输出接口(USB,冗余供电)
5、低电量提醒
6、自动延时关机
7、有数字保持
8、轻触按键操作,蜂鸣提示
技术参数
波长范围λ1,峰值波长λp (290~340)nm,λP=313nm
辐照度测量范围 (0.1~199.9×103) μW/cm2
紫外带外区杂光 UV254<0.1%,UV297<0.05%
零值误差(满量程FS) <满量程的±1.0%
长波响应误差 <15%
余弦特性(方向性响应)误差 <10%
非线性误差 <±1.5%
换档误差 ±1%
疲劳误差 <3.0%
相对示值误差 <±8.0%(相对于NIM标准)
响应时间 <1秒
使用环境 温度(0~40)℃;湿度<85%RH
尺寸和重量 160mm×78mm×43mm;0.2kg
电源 6F22型9V积层电池(非充电电池)
整机功耗 <0.1VA
配置主机、313探头、探头盖、数据线、说明书、合格证、9V电池等

