在光化学研究、高分子材料老化测试、紫外光源校准及大规模集成电路光刻等精密领域，紫外辐照度的精准测量是保障实验数据可靠性与生产工艺稳定性的核心前提。近日，一款兼具精准测量性能与便捷操作体验的UV-340型紫外辐照计正式亮相市场，凭借成熟的工艺设计与严苛的校准标准，为多元精密领域的紫外测量工作提供可靠解决方案。
作为专注于紫外辐照测量的专业设备，UV-340型紫外辐照计在核心技术与结构设计上尽显匠心。设备采用SMT贴片技术，搭配高精度低功耗数字芯片，不仅确保了测量过程的稳定性与精准度，更有效降低了设备功耗。流线型的外壳设计兼顾了握持手感与便携性，便于工作人员在实验室、生产车间等不同场景下灵活操作。值得关注的是，其核心探测器经过严格的光谱及角度特性校正，从源头保障了测量数据的准确性，为各类精密测量工作筑牢数据基础。
在性能设计上，UV-340型紫外辐照计围绕测量精准度与操作便捷性形成多重优势。设备配备数字液晶显示屏并辅以背光功能，即便在光线较暗的环境中，工作人员也能清晰读取测量数据；支持手动与自动两种量程切换模式，可根据实际辐照强度灵活适配，大幅拓宽了设备的适用范围。同时，设备搭载USB数字输出接口，兼具冗余供电功能，确保数据传输的连续性与稳定性，为后续数据的分析与存储提供便利。
人性化的操作设计更是让UV-340型紫外辐照计备受青睐。设备具备低电量提醒功能，可及时提示用户更换电源，配合自动延时关机功能，进一步延长了电池使用寿命；数字保持功能能够精准锁定关键测量数值，方便工作人员进行记录与比对；轻触按键搭配蜂鸣提示的设计，让操作反馈更加清晰，有效降低了误操作概率，提升了整体使用便捷性。
从关键技术参数来看，UV-340型紫外辐照计的性能表现充分契合精密测量领域的严苛需求。该设备波长范围覆盖315～370nm，峰值波长精准定位340nm，辐照度测量范围可达0.1～199.9×10³μW/cm²，能够精准捕捉不同强度的紫外辐照数据。在误差控制方面，设备表现优异，紫外带外区杂光UV254<0.1%、UV297<0.05%，零值误差小于满量程的±1.0%，相对示值误差小于±8.0％（相对于NIM标准），响应时间不足1秒，确保了测量数据的可靠性与时效性。此外，设备可在0~40℃、湿度＜85％RH的环境下稳定工作，160mm×78mm×43mm的尺寸与0.2kg的重量，让便携性优势更加凸显。
据悉，UV-340型紫外辐照计标准配置齐全，包含主机、340探头、探头盖、数据线、说明书、合格证及9V电池等，开箱即可完成组装调试并快速投入使用。该设备的推出，将广泛适配光化学实验研究、高分子材料老化测试、紫外光源校准及大规模集成电路光刻等多个领域的紫外辐照度测量需求，为各领域的实验研究与生产质量把控提供精准的数据支撑。
业内人士表示，UV-340型紫外辐照计的亮相，进一步丰富了精密紫外测量设备的市场选择，其稳定的性能表现、精准的测量能力与便捷的操作设计，有望在多元精密领域发挥重要作用。未来，随着各行业对精密测量需求的不断提升，此类高性能紫外辐照计将为推动相关领域的技术升级与质量提升提供更有力的保障。
服务热线：15376395192
更新时间：2026-01-06
点击次数：23
当前位置：
