UV-A双通道紫外辐照计紫外强度测定

产品简介
UV-A双通道紫外辐照计紫外强度测定选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

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更新时间：2025-08-08

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PRODUCT CLASSIFICATION

UV-A双通道紫外辐照计紫外强度测定

UV-A双通道紫外辐照计紫外强度测定

UV-A双通道紫外辐照计紫外强度测定

产品介绍

UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

工作原理：基于高精度光电转换技术，利用光电二极管或硅光电池等敏感元件，将接收到的紫外光信号转换为电信号，再经内部电路处理，包括放大、滤波和数字化处理后，输出准确的辐射强度数据。
结构组成：通常由测光探头和显示单元两部分组成，二者通过信号电缆连接。显示单元上有电源开关、功能按键以及数字通讯接口。

性能特点

1、光谱及角度特性经严格校正

2、数字液晶显示，带背光

3、手动/自动量程切换

4、数字输出接口（USB,冗余供电）

5、低电量提醒

6、自动延时关机

7、有数字保持

8、轻触按键操作，蜂鸣提示

9、双探头使用更多不同光波范围的测试

技术参数

UV-A双通道紫外辐照计紫外强度测定

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