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XY-754N紫外可见分光光度计自动波长扫描

产品简介

XY-754N紫外可见分光光度计自动波长扫描 ,采用高性能51微机控制系统,具备强大的数据处理和存储能力,可保存多组标准曲线及测试数据,便于用户随时调用和对比分析。仪器配备智能自诊断功能,可实时监测光路系统、电源模块等关键部件的运行状态,及时发现并提示异常,极大提高了设备的稳定性和维护效率。

产品型号:
更新时间:2025-09-05
厂商性质:生产厂家
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       XY-754N紫外可见分光光度计自动波长扫描 

XY-754N紫外可见分光光度计自动波长扫描


(一)XY-754N紫外可见分光光度计自动波长扫描 仪器特点

XY-754N紫外可见分光光度计采用高性能51微机控制系统,具备强大的数据处理和存储能力,可保存多组标准曲线及测试数据,便于用户随时调用和对比分析。仪器配备智能自诊断功能,可实时监测光路系统、电源模块等关键部件的运行状态,及时发现并提示异常,极大提高了设备的稳定性和维护效率。

该仪器特别设计了断电保护功能,有效避免突然停电导致的数据丢失问题,确保实验数据的完整性与安全性。内置专业化定量分析软件,提供直观的中文操作界面,用户可通过向导式流程轻松完成光度分析、定量计算、动力学测试、光谱扫描、多波长测定及DNA/蛋白质分析等多种应用。

仪器支持多种外设连接,配备标准打印机接口和RS-232通讯接口,可方便地输出测试报告和数据,实现信息化管理。其自动波长调节功能显著提升了分析效率和准确性,尤其适合大批量样品的快速检测。

技术参数

仪器型号:XY-754N

波长驱动:自动波长

波长范围:200-1000nm

波长准确度:±2nm

波长重复性:0.5nm

光谱带宽:4nm

透射比准确率:±0.5%T

透射比重复性:0.2%T

透射比范围:0.0-200%T

光度范围:-3-3A,0-200%T,0-9999C

杂散光:0.2%T@220nm/360nm


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